Detector de deriva de silicio de ultra alto rendimiento FAST SDD®
Descripción
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Amptek recientemente incorporó la fabricación interna de obleas de silicio y mejoró el proceso. El resultado es un detector con menor ruido, menor corriente de fuga, mejor recolección de carga y uniformidad de detector a detector. Esto lo convierte en el detector de deriva de silicio de mejor rendimiento disponible y en el verdadero estado del arte.
El FAST SDD® representa el detector de deriva de silicio (SDD) de más alto rendimiento de Amptek, capaz de velocidades de conteo de más de 1,000,000 CPS (conteos por segundo) mientras mantiene una excelente resolución. El FAST SDD® también está disponible con nuestras ventanas de baja energía patentadas de la serie C (Si3N4) para análisis de rayos X blandos.
Descripción general
A diferencia de los SDD convencionales que usan un transistor de efecto de campo de puerta de unión (JFET) dentro del paquete TO-8 sellado herméticamente, junto con un preamplificador externo, el FAST SDD usa un preamplificador de semiconductor de óxido de metal complementario (CMOS) dentro del TO- 8 y reemplaza el JFET con un transistor de efecto de campo de semiconductor de óxido de metal (MOSFET). Esto reduce significativamente la capacitancia, lo que proporciona un ruido en serie mucho menor y produce una resolución mejorada en tiempos de pico muy cortos. El FAST SDD® utiliza el mismo detector pero con un preamplificador que proporciona un ruido más bajo en tiempos de pico cortos. La resolución mejorada (más baja) permite el aislamiento/separación de rayos X fluorescentes con valores de energía cercanos donde los picos de otro modo se superpondrían, lo que permite a los usuarios una mejor identificación de todos los elementos en su(s) muestra(s). Los tiempos pico cortos también producen mejoras significativas en las tasas de conteo; más recuentos proporcionan mejores estadísticas.
Aplicaciones
- Analizadores XRF portátiles y de sobremesa ultrarrápidos
- Escaneo/mapeo de muestras en un SEM como parte de un sistema EDS
- Control de procesos en línea
- Máquinas clasificadoras de rayos X
- Espacio y Astronomía
- OEM